里氏硬度(du)(du)計是(shi)一種測(ce)試器(qi)材，其原(yuan)(yuan)理是(shi)隨著單片技術的發展，1978年，瑞士人Leeb博士提出了一種全新(xin)的測(ce)硬方法，它的基(ji)本(ben)原(yuan)(yuan)理是(shi)具(ju)有一定質量的沖擊(ji)(ji)體(ti)在一定的試驗力(li)作用下沖擊(ji)(ji)試樣表面(mian)，測(ce)量沖擊(ji)(ji)體(ti)距試樣表面(mian)1mm處的沖擊(ji)(ji)速(su)度(du)(du)與回跳速(su)度(du)(du)，利用電(dian)磁原(yuan)(yuan)理，感應(ying)與速(su)度(du)(du)成正比的電(dian)壓。

使用(yong)

在(zai)現(xian)場工作(zuo)中，經(jing)常遇到曲(qu)(qu)面(mian)(mian)試件(jian)(jian)，各種曲(qu)(qu)面(mian)(mian)對(dui)硬度(du)測(ce)試結果影(ying)響(xiang)不(bu)同(tong)，在(zai)正確操(cao)作(zuo)的(de)情況(kuang)下，沖擊落在(zai)試件(jian)(jian)表面(mian)(mian)瞬間的(de)位置與平(ping)面(mian)(mian)試件(jian)(jian)相同(tong)，故通用支(zhi)撐環(huan)即(ji)可。但當曲(qu)(qu)率(lv)小到一定尺寸時(shi)(shi)，由于(yu)平(ping)面(mian)(mian)條件(jian)(jian)的(de)變形的(de)彈性狀(zhuang)態相差(cha)顯(xian)著(zhu)會使沖擊體回彈速(su)度(du)偏(pian)低，從(cong)而使里氏(shi)硬度(du)示值(zhi)偏(pian)低。因此對(dui)試樣，建議測(ce)量時(shi)(shi)使用小支(zhi)撐環(huan)。對(dui)于(yu)曲(qu)(qu)率(lv)半徑更小的(de)試樣，建議選用異型支(zhi)撐環(huan)。

要求

一、對被測(ce)試(shi)件(jian)的(de)一般要求試(shi)件(jian)表面(mian)應潔凈(jing)，無灰塵，無油污和(he)無氧化皮(pi)。

二、對(dui)試件表面溫(wen)度(du)的(de)要(yao)求(qiu)(qiu)試件表面的(de)溫(wen)度(du)不能(neng)過(guo)熱，要(yao)求(qiu)(qiu)溫(wen)度(du)小于(yu)120℃。測試*溫(wen)度(du)為(wei)4℃-38℃。

三、對(dui)試件(jian)(jian)表(biao)面粗糙(cao)度(du)的(de)要求試件(jian)(jian)表(biao)面粗糙(cao)度(du)應滿足下表(biao)的(de)要求，試件(jian)(jian)表(biao)面的(de)粗糙(cao)度(du)不但影響測試精度(du)，而且影響沖擊球頭的(de)使(shi)用壽命。

四、對試件重量的要求

1、對足夠重的試件不需要支撐(cheng)，直接進行(xing)測試。

2、對重量不太重的(de)試(shi)(shi)件(jian)，有懸伸部(bu)分的(de)試(shi)(shi)件(jian)以(yi)及薄壁試(shi)(shi)件(jian)，在測(ce)試(shi)(shi)時應(ying)使用物體(ti)支撐，以(yi)避免沖擊(ji)力引起試(shi)(shi)件(jian)的(de)扭曲、變形和(he)移(yi)動。

3、對(dui)重(zhong)量(liang)較小的(de)試(shi)件，應使其(qi)與(yu)重(zhong)量(liang)大與(yu)5kg的(de)支撐體(ti)牢牢耦(ou)合，要求試(shi)件與(yu)支撐體(ti)表(biao)(biao)面必須平整、光滑，耦(ou)合劑(凡(fan)士林，機油(you)等)用量(liang)不宜過多，測試(shi)方向必須垂直于耦(ou)合平面。沖擊(ji)裝(zhuang)置與(yu)試(shi)件重(zhong)量(liang)的(de)關系見下表(biao)(biao)：

五、對(dui)試(shi)(shi)件(jian)(jian)表(biao)(biao)面硬(ying)化層(ceng)厚(hou)(hou)度的(de)(de)要求對(dui)于表(biao)(biao)面覆有硬(ying)化層(ceng)的(de)(de)試(shi)(shi)件(jian)(jian)，為保證測試(shi)(shi)精度，要求對(dui)應(ying)于不同(tong)的(de)(de)沖擊裝置試(shi)(shi)件(jian)(jian)表(biao)(biao)面硬(ying)化層(ceng)厚(hou)(hou)度應(ying)符合(he)下表(biao)(biao)規定：

六(liu)、對板材、管壁(bi)型試件厚(hou)度的(de)要(yao)(yao)求對于板材、管材和其它薄片(pian)型試件的(de)測試，為保證測試精度，要(yao)(yao)求對應于不同的(de)沖擊裝置試件厚(hou)度應符合下(xia)表

七、對(dui)曲(qu)口試(shi)件(jian)保證(zheng)測試(shi)精(jing)度(du)的(de)(de)要(yao)求(qiu)使用D型(xing)沖(chong)擊裝置，要(yao)求(qiu)試(shi)件(jian)曲(qu)面(mian)半徑大于30mm；使用G型(xing)沖(chong)擊裝置，要(yao)求(qiu)試(shi)件(jian)曲(qu)面(mian)半徑大于50mm。對(dui)不滿足上述要(yao)求(qiu)的(de)(de)球面(mian)、柱(zhu)面(mian)和凹面(mian)等曲(qu)口試(shi)件(jian)，為(wei)保證(zheng)測試(shi)精(jing)度(du)，應采用異型(xing)支撐(cheng)環（選購件(jian)）。

異型支撐(cheng)環有如下規格(ge)：

1、外(wai)圓球面：K10-15mm，K14.5-30mm。

2、內(nei)圓(yuan)球面：HK11-13mm，HK12.5-17mm，HK16.5-30mm。

3、外圓柱(zhu)面：Z10-15mm，Z14.5-30mm，Z25-50mm。

4、內圓(yuan)柱(zhu)面：HZ11-13mm，HZ12.5-17mm，HZ16.5-30mm。

5、特殊外形：UN

八、對試件表面無(wu)磁性的要求(qiu)試件表面不能帶有(you)磁性，帶有(you)磁性的試件將影響測試精度。要求(qiu)試件剩磁應小(xiao)于4G。

九、對試件無振動的(de)要(yao)求測試時，試件所(suo)處的(de)四(si)周環境不(bu)應有振動，否則會影響測試結果(guo)。