一(yi)、電子產品恒溫恒濕試驗箱執行標(biao)準：

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電(dian)工電(dian)子產品環境低(di)溫試驗方法

2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境高溫試驗方法(fa)

3. GJB150.3A－2009  高溫試(shi)驗方法

4. GJB150.4A－2009  低(di)溫試驗方法

5. GBT 2424.5-2006 電工電子(zi)產品環境(jing)試驗 溫(wen)度試驗箱性能確認

6. GB/T 10589-2008 低(di)溫試驗箱技術(shu)條件

7. GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3)    恒定濕熱試驗方法

二(er)、電子產品恒溫恒濕試驗箱主要技(ji)術指(zhi)標:

1、型號(hao)：BS-80AE

2、內箱尺寸（mm）： 400*500*400(W*H*D)

3、溫度范(fan)圍：-50℃~150℃；  

4、濕(shi)度(du)范圍：20~98%R. H；

5、解析精度：

（1）溫度：0.1℃                  

（2）濕(shi)度(du)：0.1%R.H

6、控制精度：

（1）波(bo)動度：溫度：±0.5℃    濕度：±5%R.H

（2）均勻度：溫度：小于2℃   濕(shi)度：小于5%R.H 

7、升溫(wen)速率：升溫(wen)時間：RT→+150℃  全程平均≧ 3℃ /min （空載(zai)）

8、降(jiang)溫速率(lv)：降(jiang)溫時間：RT→ -40℃   全程平均≧1℃ /min  （空(kong)載(zai)）

三、恒溫恒濕試(shi)驗箱概(gai)述:

恒(heng)溫(wen)(wen)(wen)恒(heng)濕(shi)(shi)試驗機又名高(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)濕(shi)(shi)熱(re)交(jiao)變試驗機或(huo)恒(heng)溫(wen)(wen)(wen)槽(cao)，主要(yao)用于模擬電(dian)子(zi)儀(yi)器(qi)儀(yi)表、新型材料、電(dian)工、車輛、金屬、電(dian)子(zi)產品、航空航天材料等在運輸、儲(chu)存(cun)、使用過程(cheng)中可能(neng)會(hui)遇到的(de)嚴酷(ku)高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)、低溫(wen)(wen)(wen)或(huo)濕(shi)(shi)熱(re)環(huan)境(jing)；或(huo)高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)、低溫(wen)(wen)(wen)、濕(shi)(shi)熱(re)交(jiao)變環(huan)境(jing)下，檢驗材料、配件(jian)或(huo)儀(yi)器(qi)設備耐(nai)高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)、耐(nai)寒、耐(nai)濕(shi)(shi)熱(re)性能(neng)及可能(neng)造成的(de)損(sun)壞壽命縮(suo)減等