一、電子元器件恒溫恒濕試驗箱參照標準:

1.GB/T10586-2006濕熱試驗箱(xiang)技(ji)術條(tiao)件

2.GBT 2424.6-2006 電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產品環(huan)境(jing)試(shi)驗 溫度 濕度試(shi)驗箱性能確(que)認(ren)

3. GBT 2424.5-2006 電工電子產品環境試驗 溫度試驗箱性能確認

4. GJB150.9A-2009               濕(shi)熱試驗方法 

5.GBT 2424.7-2006 電(dian)工電(dian)子產品環境試(shi)(shi)驗(yan) 試(shi)(shi)驗(yan)A和B(帶負載)溫(wen)度試(shi)(shi)驗(yan)箱的測量

二、電子元器件恒溫恒濕試驗箱主要技術指標：

 1、解析精度：

（1）溫度：0.1℃                  

（2）濕度：0.1%R.H

2、控制精度：

（1）波動度：溫度：±0.5℃    濕度：+2/-3%R.H

（2）均勻度：溫度：小于2℃   濕度：+2/-3%R.H

（3）偏差：溫度：±2℃       濕度：+2/-3%R.H

三、恒溫恒濕試驗機(ji)系統組成(cheng)

恒(heng)(heng)濕(shi)恒(heng)(heng)溫箱(xiang)是指能同(tong)時施加溫度、濕(shi)度應力(li)的(de)(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)。隨(sui)著中國(guo)(guo)工(gong)(gong)(gong)業(ye)產品(pin)(pin)研(yan)制(zhi)的(de)(de)需要(yao)(yao)，近幾年(nian)來，中國(guo)(guo)從國(guo)(guo)外引進了大批試(shi)(shi)驗(yan)(yan)系統，為中國(guo)(guo)工(gong)(gong)(gong)業(ye)產品(pin)(pin)的(de)(de)研(yan)制(zhi)和定型(xing)發揮了重要(yao)(yao)作用，但(dan)由于其本身的(de)(de)復雜性，使得(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)在運行中出現(xian)(xian)了許多問(wen)題，而(er)且出現(xian)(xian)了問(wen)題不能及時解決(jue)，大大延(yan)長了試(shi)(shi)驗(yan)(yan)周期，影響(xiang)了產品(pin)(pin)的(de)(de)研(yan)制(zhi)工(gong)(gong)(gong)作。而(er)產生這些(xie)現(xian)(xian)象(xiang)的(de)(de)原因是對綜(zong)合試(shi)(shi)驗(yan)(yan)的(de)(de)工(gong)(gong)(gong)作原理不了解。為此，我們對試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)的(de)(de)基本工(gong)(gong)(gong)作原理作出了一些(xie)簡(jian)要(yao)(yao)闡述，并介紹如何對綜(zong)合試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)設備(bei)的(de)(de)故障進行分析和判斷(duan)。