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產品名稱:

高低(di)溫濕熱試驗箱(xiang)品牌(pai)

產品(pin)(pin)簡介(jie):高低(di)溫濕(shi)熱(re)試(shi)驗箱品(pin)(pin)牌是電子、航空、汽車、家(jia)電、科研等領域*的測試(shi)設備,用于(yu)測試(shi)和(he)確定電工、電子及(ji)其他(ta)產品(pin)(pin)及(ji)材料進行高溫、濕(shi)熱(re)或恒定試(shi)驗的溫度環境變化后(hou)的參數及(ji)性能(neng)。
  • 更新時(shi)間:2024-06-04
  • 廠商性質:生產廠家
  • 產(chan)品品牌:其他品牌
  • 訪問(wen)次(ci)數:1013
產品概述
品牌其他品牌適用領域科研
溫度范圍-70-150℃溫度波動度1℃
濕度范圍20-98% R.H額定電壓220V
產地國產加工定制

一、高低溫濕熱試驗箱品牌程序及控制功能:

可(ke)使用的(de)程序量:大120組,1個程序可(ke)由1~99段次組合(he)而成

可(ke)(ke)使用(yong)的記(ji)憶容量: 1200段 ,可(ke)(ke)重復執行命令:每一個命令可(ke)(ke)達999次,程序(xu)斜率設(she)定可(ke)(ke)由時(shi)間軸來(lai)設(she)定,程序(xu)間可(ke)(ke)設(she)定聯結使用(yong),程序(xu)之制(zhi)作(zuo)(zuo)采對(dui)談式操作(zuo)(zuo)簡(jian)單

具有編(bian)輯,清除,插入等功(gong)能,4組時間(jian)信號輸出(chu)控制(可(ke)控制待測物(wu)ON/OFF動(dong)作(zuo))

具(ju)有9組(zu)PID參數設定,程序執行中具(ju)有跳段(duan),保(bao)持功(gong)能(neng),可顯示曲線,資料獲(huo)取(qu);日(ri)期、時間(jian)調整功(gong)能(neng);按(an)鍵及畫面鎖定(LOCK)功(gong)能(neng),可連接計算機使用,8點(dian)DI異(yi)常輸(shu)入(ru)及10點(dian)DO信號(hao)控制

 

 

二(er)、高低溫濕熱試驗箱品牌技術參數

型號(hao)

BS-80D

BS-150D

BS-225D

BS-408D

BS-608D

BS-800D

BS-010D

內箱尺(chi)寸W*H*D(mm)

400*500*500

500*600*500

500*750*600

600*850*800

800*950*800

1000*1000*800

1000*1000*1000

外箱尺寸W*H*D(mm)

600*1650*1100

700*1700*1200

700*1850*1300

800*1950*1500

1000*2050*1500

1200*2100*1500

1000*1000*1000

溫度范(fan)圍(wei)

-70-+100℃(150℃)

(A10℃  B0℃  C-20℃  D-40℃  E-50℃  F-60℃  G-70℃)

溫度解(jie)析度/均(jun)勻度

0.01℃   ±1℃

溫度(du)控制精度(du)/波動度(du)

±1℃    ±0.5℃

升(sheng)溫/降溫時(shi)間

約3℃/min   約1℃/min  (其(qi)他(ta)條件可定制)

電(dian)源(yuan)

AC220V+±10%V 50HZ/60HZ      AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 

三、高低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)執(zhi)行標準

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子(zi)產品環境試(shi)(shi)驗第2部分(fen):試(shi)(shi)驗方(fang)法 試(shi)(shi)驗A:低溫

2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huan)境(jing)試驗(yan) 第2部(bu)分:試驗(yan)方法 試驗(yan)B:高溫

3. GJB150.3A-2009        ;    高溫(wen)試驗(yan)方法

4. GJB150.4A-2009             低溫(wen)試驗方法(fa)

5. GB2423.22-2008電工電子(zi)產品環境(jing)試驗 第2部分 試驗方(fang)法 試驗Nb:規定溫度(du)變化速率的溫度(du)變化

6. GBT 2424.5-2006 電工電子產品(pin)環境試驗 溫(wen)度試驗箱性能確認

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yan)箱技術條件

 

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