一、三綜合恒溫恒濕測試振動臺滿足標準：

1. GB/T 2423.2-2008 電(dian)工電(dian)子產品環(huan)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫

2. GJB150.3A－2009  ;             高(gao)溫試驗方法

3. GJB150.4A－2009      ;          低溫試驗方(fang)法

4.GJB150.9A-2009                  濕熱試驗(yan)方(fang)法

5.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005 試驗 Db:交變濕(shi)熱方法

6.GB/T5170.18-2005 電(dian)工電(dian)子產品環境試驗設(she)備(bei)基本參數檢定方法溫(wen)度/濕度組合循環試驗設(she)備(bei)

7.GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條(tiao)件

二、技術參(can)數：

1. GJB150.4A－2009                低(di)溫試驗方法

2. GB2423.22-2008 電工電子產品環境試驗 第(di) 2 部分 試驗方法 試驗 Nb：規定(ding)溫(wen)(wen)度(du)變化(hua)速率的溫(wen)(wen)度(du)變化(hua)

3.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技(ji)術條件(jian)

4.GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3) ;    試驗 Ca:恒定濕熱試驗方法(fa)

5.GJB150.9A-2009                  濕(shi)熱(re)試(shi)驗方法

6.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005 試驗(yan) Db:交變濕熱方(fang)法(fa)

7.GB/T5170.18-2005 電(dian)工電(dian)子產品環境試驗設(she)備基本參數檢定方法(fa)溫度/濕度組合循環試驗設(she)備

三、三綜合恒溫恒濕測試振動臺簡介：

適用于電工電子產(chan)品、儀器儀表、材(cai)料等(deng)進行(xing)高溫試(shi)(shi)驗(yan)、低溫試(shi)(shi)驗(yan)、濕度、振動試(shi)(shi)驗(yan)等(deng)綜合性(xing)試(shi)(shi)驗(yan)，以便對(dui)試(shi)(shi)品在給定環(huan)境(jing)條(tiao)件下的行(xing)為性(xing)能作出(chu)評價(jia)。