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產品名稱:

電子元器件恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗機

產品簡介:電子元器件恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗(yan)機(ji)在高溫(wen)、低溫(wen)、濕熱、交變濕熱環境條(tiao)件下的適應性試驗(yan),可供各種科(ke)研(yan)機(ji)構及廠礦中心(xin)試驗(yan)室作(zuo)試驗(yan)用。
  • 更新(xin)時間:2024-06-02
  • 廠商性質(zhi):生產廠家
  • 產品品牌:其他品牌
  • 訪問次數:2148
產品概述
品牌其他品牌適用領域科研
溫度范圍-70-150℃濕度范圍20-98% R.H
額定電壓380V產地國產
加工定制

一、電子元器件恒溫恒濕試驗機用(yong)途:

恒(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)濕試驗箱(xiang)又名高(gao)低(di)溫(wen)(wen)濕熱交變(bian)試驗機或(huo)恒(heng)溫(wen)(wen)槽,主要用于模擬電子儀器儀表、新型材(cai)(cai)料、電工、車輛、金屬(shu)、電子產品(pin)、航空航天材(cai)(cai)料等在運(yun)輸、儲(chu)存、使用過(guo)程中可(ke)能(neng)(neng)會遇到的(de)嚴酷高(gao)溫(wen)(wen)、低(di)溫(wen)(wen)或(huo)濕熱環(huan)境;或(huo)高(gao)溫(wen)(wen)、低(di)溫(wen)(wen)、濕熱交變(bian)環(huan)境下,檢(jian)驗材(cai)(cai)料、配(pei)件或(huo)儀器設(she)備耐(nai)高(gao)溫(wen)(wen)、耐(nai)寒、耐(nai)濕熱性能(neng)(neng)及(ji)可(ke)能(neng)(neng)造成的(de)損(sun)壞壽命縮減等

 

二、電子元器件恒溫恒濕試驗機技術參數:

型(xing)號

BS-80A

BS-150A

BS-225A

BS-408A

BS-608A

BS-800A

BS-010A

內箱尺(chi)寸W*H*D(mm)

400*500*500

500*600*500

500*750*600

600*850*800

800*950*800

1000*1000*800

1000*1000*1000

外箱尺寸W*H*D(mm)

600*1650*1100

700*1700*1200

700*1850*1300

800*1950*1500

1000*2050*1500

1200*2100*1500

1000*1000*1000

溫度范(fan)圍(wei)

-70-+100℃(150℃)

(A10℃  B0℃  C-20℃  D-40℃  E-50℃  F-60℃  G-70℃)

濕度范圍

20﹪ -98﹪R.H (10﹪-98﹪R.H均可定制(zhi))

溫濕度解析度

0.01℃    0.1%R.H  

溫濕度均勻度

±1℃  ;   ±3%R.H

溫濕度控制(zhi)精度

±1℃     ±2%R.H

溫濕度控波動(dong)度

±0.5℃   ±2%R.H

升溫(wen)/降溫(wen)時(shi)間

約(yue)3℃/min   約(yue)1℃/min  (其他條件可定制(zhi))

電源

AC220V+±10%V 50HZ/60HZ     ; AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 

 

三、恒溫恒濕(shi)試驗(yan)機執行標準:

1.GJB150.9A-2009                濕熱(re)試(shi)驗方(fang)法 

2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huan)境(jing)高溫試驗方法

3. GJB150.3A-2009  高溫試驗方法(fa)

4. GJB150.4A-2009  低溫試驗方法

5. GBT 2424.5-2006 電工電子(zi)產品環境試(shi)驗 溫度(du)試(shi)驗箱性能確(que)認

6. GB/T 10589-2008 低溫試驗(yan)箱技術條件

 

 

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